產品描述

主要特性：
主要分單面、雙面、平行三類，可用於不同場合
可檢測精密平面的平面度、平行度
一級平晶的平面度誤差不大於0.03μm；二級平晶的平面度誤差不大於0.10μm
千分尺專用平晶四件套裝
技術要求：
1.測量面平面度誤差：1級小於0.03μm；2級小於0.10μm
2.平行度誤差小於0.20μm
3.外徑30mm
4.厚度：12.00 mm、12.12 mm、12.25 mm、12.37 mm
四件套平行平晶可用於檢測千分尺兩相對測量面的平行度誤差，分別用於測量0度、90度、180度、270度等四個方向的偏差值
規格:ф30,ф45,ф60.
*平面平晶是以光波干涉原理為基礎，利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現的干涉條紋來測量被測量面的平面度。
*平面平晶用於檢定量塊的研合性和平面度以儀器和量具的測量面、工作面的平面度。亦可用於檢定高精度的平面零件，例如，平面光學零件、高級平台、平板、導軌、密封件等。平面平晶特別適用於計量單位、實驗室作為標準平面和樣板。平面平晶、平行平晶及各種光學零部件，能夠承擔各種高精度光學平面零件及光學標準樣板的設計和加工。

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